X-RAY设备
products
半导体检测X-RAY设备_X-7900
半导体检测X-RAY设备_X-7900
载物台:540*540mm 检测精度:3um 放大倍数:400X 检测领域:半导体检测

X-7900的精度为5um可以很好的检测出半导体内部相关问题,并可以几何放大400X、系统放大2500X。

功能介绍
功能CNC程序:自动批量检测样品不同位置
阵列功能:自动批量检测位置固定、间距相同样品
气泡测量:一键测量气泡大小、空洞率
长度、宽度测量:测量部分检测区域长度、宽度
可视化导航界面:检测位置精准定位
模拟颜色:更好观察检测图像
优势
在线式自动 ON/OFF X-RAY光管批量检测样品
搭配130KV滨松X-RAY光管,检测精度达3um
高分辨率数字X-RAY平板,1644*1648px图像更清晰
几何放大450x,系统放大2000x
540*540mm载物台可容纳大量各种尺寸样品

半自动的NG/OK产品检测

允许60°倾斜观测



规格参数
Model:X-7900
X-ray 光管类型封闭式
空间分辩率3um
光管电压130KV(可选90KV)
光管电流300uA
放大倍率 几何放大400倍,系统放大2500倍
数字平板探测器分辩率1536*1536 像素
数字平板探测器密度值14bit (16348)
图像速度30(FPS) 
平板旋转角度60 °
载物台尺寸540*540mm
载物台旋转360°(可选)
X-Y 行程980*980mm
检测范围510*510mm
机器尺寸1350*1110*2000mm(L*W*H)
机器重量1050KG
操作系统WINDOWS 10
电源/功率AC110-220V 50-60HZ 1200W
辐射安全测试<1 uSV/H


应用领域

图片关键词

手机数据线

充电头检测.jpg

手机充电头

电脑内存卡检测.jpg

电脑内存卡

pcb板.jpg

PCB板

电容气泡测量.jpg

电容气泡测量

芯片.jpg

IC芯片金线

PCB盲孔.jpg

PCB盲孔

PCB板检测.jpg

PCB板


XF-3000 涂层厚度分析仪是一款面向镀层、膜厚、 涂层行业厚度无损检测的X射线荧光光谱仪,可广泛应用于涂层厚度产品质量的管理。该产品既可以分析各种金属涂层厚度以及成分分析,可同时分析 基材和镀材的成分及厚度。
X-7100 X-RAY检测领域广泛,通常应用于电子元器件的内部结构检测,常见气泡空洞率测量、电路短路断路、焊点缺焊少焊漏焊、内部存在异物裂缝等.....
X-7900的精度为5um可以很好的检测出半导体内部相关问题,并可以几何放大400X、系统放大2500X。
Copyright © 2020 瑞茂光学(深圳)有限公司 All Rights Reserved. 粤ICP备17141898号 云合技术支持 本站基于 米拓企业建站系统 7.2.0 搭建
188-2319-2896